O AXRD Theta-Theta traz difração com controle ambiental para o seu laboratório em uma unidade compacta e econômica. Este sistema fornece uma solução exclusiva para difração de alta temperatura, com estágios de temperatura de -190°C a 2000°C.
O AXRD Theta-Theta foi projetado para lidar com amostras maiores ou acomodar situações em que é necessário mais espaço para estágios experimentais, como estágios de temperatura ou células de pressão. A opção FlexStage facilita a montagem de grandes amostras, enquanto o sistema de refrigeração totalmente integrado mantém os requisitos da instalação no mínimo.
CARACTERÍSTICAS- Raio do goniômetro de 200 mm
- Sistema de raio X de 1200 watts
- Geometria vertical de medição teta-teta
- Detector de contagem de fótons de alta velocidade
- Opções de estágio de temperatura (-190°C a 2000°C)
- Opção de estágio de pressão.
- FlexStage para montagem de grandes amostras
- Estágio rotacional para melhorar aleatoriedade das partículas
- Trocador de amostras
- Tamanho compacto 100 x 61 x 171 cm (L x P x A)
SOFTWARESO XRDWIN PD é o nosso software de coleta de dados, otimizado para versatilidade de coleta.
O XRDWIN PD facilita a configuração de parâmetros de digitalização personalizados para difratogramas individuais e a análise de dados em tempo real durante a aquisição. Ele pode ser personalizado para executar coleções de varredura múltipla que variam em temperatura, pressão, condições de medição ou geometrias. Os comandos internos otimizam o alinhamento e a calibração, tornando o processo acessível até mesmo para um usuário iniciante.
O PDAnalysis permite que os usuários analisem dados de pó adquiridos com o XRDWIN PD.
O PDAnalysis possui um número ilimitado de licenças, permitindo que os usuários analisem dados dentro ou fora do local, sem nenhum custo adicional. Os recursos avançados do nosso software permitem que os usuários realizem várias análises qualitativas e quantitativas:
- Identificação de fases
- Pesquisa / correspondência em bancos de dados COD ou ICDD
- Análises de fases quantitativas
- Ajuste de padrão inteiro (Refinamento de Rietveld)
- Grau de cristalinidade
- Tamanho e tensão do cristalito
- Refinamento e indexação de parâmetros de rede
- Austenita retida, tensão residual, figuras de polo e textura
- Análise XRF para dados coletados com o detector SPD
- Análise de alta resolução: curvas de refletividade de raios X (XRR), rocking curves e mapas de espaço recíproco.
