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Microscopia Eletrônica de Varredura por Feixe de Íons Focalizados - MEV FIB

Estes instrumentos oferecem uma abordagem única para a investigação de materiais em escala nanométrica, combinando a capacidade de imagens de alta resolução do MEV com a precisão do feixe de íons focalizados.


O MEV FIB permite a manipulação controlada de amostras, incluindo corte, deposição e nano fabricação, abrindo portas para uma ampla gama de aplicações em áreas como ciências dos materiais, eletrônica e biologia.


Com sua capacidade de realizar análises detalhadas e intervenções precisas em amostras sensíveis, o MEV FIB é uma ferramenta essencial para pesquisadores e profissionais que buscam explorar os limites da microscopia eletrônica.

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