Microscopia Eletrônica de Varredura por Feixe de Íons Focalizados - MEV FIB

Estes instrumentos oferecem uma abordagem única para a investigação de materiais em escala nanométrica, combinando a capacidade de imagens de alta resolução do MEV com a precisão do feixe de íons focalizados. 

O MEV FIB permite a manipulação controlada de amostras, incluindo corte, deposição e nano fabricação, abrindo portas para uma ampla gama de aplicações em áreas como ciências dos materiais, eletrônica e biologia.

Com sua capacidade de realizar análises detalhadas e intervenções precisas em amostras sensíveis, o MEV FIB é uma ferramenta essencial para pesquisadores e profissionais que buscam explorar os limites da microscopia eletrônica.

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Perguntas Frequentes

O que é Microscopia Eletrônica de Varredura por Feixe de Íons Focalizados (MEV FIB)?
MEV FIB combina a capacidade de imagem de alta resolução do MEV com a precisão do feixe de íons focalizados, permitindo manipulação controlada de amostras.

Quais são as aplicações do MEV FIB?
Aplicações incluem investigação de materiais em escala nanométrica, corte e deposição de amostras, nano fabricação e análise detalhada em ciências dos materiais, eletrônica e biologia.

Como o MEV FIB difere do MEV convencional?
Além de criar imagens de alta resolução, o MEV FIB pode realizar cortes precisos, deposições e outras manipulações em escala nanométrica que não são possíveis com o MEV convencional.

Quais são as vantagens do uso de MEV FIB?
Permite análises detalhadas e intervenções precisas em amostras sensíveis, ampliando as capacidades de investigação e manipulação em pesquisa e desenvolvimento.