Microscópio Eletrônico de Transmissão - Thermo Fisher Spectra Ultra STEM |

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Thermo Fisher Spectra Ultra STEM

SKU: MET - Thermo Fisher Spectra Ultra STEM

Microscópio eletrônico de transmissão por varredura para imagem e espectroscopia de materiais sensíveis ao feixe.

Descrição

Microscópio eletrônico de transmissão por varredura para imagem e espectroscopia de materiais sensíveis ao feixe.

Microscópio Eletrônico de Transmissão por Varredura Spectra Ultra

Para otimizar verdadeiramente a imagem TEM e STEM, a aquisição de sinais EDX e EELS pode requerer diferentes voltagens de aceleração. As regras podem variar de amostra para amostra, mas geralmente é aceito que: 1) a melhor imagem é obtida na voltagem de aceleração mais alta possível acima da qual ocorrerá dano visível, 2) EDX, especialmente ao mapear, se beneficia de voltagens mais baixas com seções transversais de ionização aumentadas, produzindo assim mapas de relação sinal-ruído melhores para uma dose total dada, e 3) EELS funciona melhor em altas voltagens para evitar dispersão múltipla, o que degrada o sinal EELS com o aumento da espessura da amostra.

Infelizmente, a aquisição em diferentes voltagens de aceleração na mesma amostra sem perder a região de interesse - tudo durante uma única sessão de microscopia - não é possível. Pelo menos, até agora.

Imagine um Thermo Scientific Spectra 300 S/TEM:

Que pode ser operado verdadeiramente em diferentes voltagens (todas as voltagens entre 30 e 300 kV para as quais foram adquiridos alinhamentos) em uma única sessão de microscopia
Onde mudar de uma voltagem de aceleração para qualquer outra leva cerca de 5 minutos
Que pode acomodar um conceito de EDX radicalmente diferente com um ângulo sólido de 4,45 srad (ângulo sólido de 4,04 srad com um suporte analítico de dupla inclinação)

Com o novo Spectra Ultra S/TEM, a voltagem de aceleração se torna um parâmetro ajustável, assim como a corrente da sonda, e o sistema Ultra-X EDX massivo permite a caracterização química de materiais muito sensíveis ao feixe para análise convencional de EDX.

O aberration-corrected Spectra Ultra S/TEM oferece um nível líder da indústria de capacidades de caracterização para ciência de materiais e aplicações de semicondutores com a maior resolução em uma ampla variedade de amostras.

Construído sobre uma base ultraestável

O Spectra Ultra S/TEM é entregue em uma plataforma projetada para oferecer um nível sem precedentes de qualidade de estabilidade mecânica por meio de isolamento passivo e (opcional) ativo de vibração.

Como o Thermo Scientific Spectra 200 S/TEM e Spectra 300 S/TEM, o sistema é alojado em uma carcaça totalmente redesenhada com uma tela de exibição embutida para carregamento e remoção conveniente da amostra. Pela primeira vez, a total modularidade e atualização podem ser oferecidas entre configurações não corrigidas e corrigidas de forma única com alturas variáveis, permitindo a máxima flexibilidade para diferentes configurações de sala.

Principais recursos:

Tempo mais rápido para resultados otimizados em mais materiais.
Menor dose STEM/EDX para a caracterização de mais materiais.
Sensibilidade sem precedentes com o sistema de detecção Panther STEM.
Desempenho de imagem STEM de mais alta resolução.
Fontes de alta resolução de energia e alta luminosidade.
Capacidades avançadas de imagem STEM.
Capacidades in situ do Spectra Ultra S/TEM.

Especificações

Não corrigida	Propagação de energia: 0,2–0,3 eV Limite de informação: <100 pm Resolução STEM: <136 pm
Sonda corrigida	Propagação de energia: 0,2–0,3 eV Limite de informação: <100 pm Resolução STEM: <50 pm (125 pm @ 30 kV)
Sonda+Imagem corrigida X-FEG/Mono	Propagação de energia: 0,2–0,3 eV Limite de informação: <60 pm Resolução STEM: <50 pm a 300kV com >30pA de corrente de sonda Resolução STEM: <125 pm a 30kV com >20pA de corrente de sonda
Sonda+Imagem corrigida X-FEG/UltiMono	Espalhamento de energia: 0,05 eV (0,025 eV @ 60kV) Limite de informação: <60 pm Resolução STEM: <50 pm a 300kV >30pA de corrente de sonda Resolução STEM: <125pm a 30kV com >20pA de corrente de sonda
Sonda+Imagem Corrigida X-CFEG	Propagação de energia: 0,4 eV Limite de informações: < 19h Resolução STEM: <50 pm (<136 pm @ 30 kV) com >100pA de corrente de sonda
Fonte	X-FEG Mono: Pistola emissora de campo Schottky de alto brilho e monocromador com uma faixa de resolução de energia ajustável entre 1 eV e <0,2 eV X-FEG UltiMono: Pistola emissora de campo Schottky de alto brilho com monocromador ultraestável e tensão de aceleração com uma faixa de resolução de energia ajustável entre 1eV e <0,05 eV (<0,025eV @ 60kV) X-CFEG: Brilho ultra alto com uma resolução de energia intrínseca de <0,4 eV com 14nA de corrente de feixe total e <0,3eV com 2nA de corrente de feixe total Faixa de alta tensão flexível de 30 a 300 kV