Estação de Trabalho SIMS
SKU: Estação de Trabalho SIMS
info@tennessine.com.br
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Um sistema de análise de superfície UHV para perfilagem de profundidade de filmes finos
A Hiden Analytical oferece instrumentação extremamente versátil e de alta sensibilidade para análises SIMS (espectrometria de massa de íons secundários) dinâmicas e estáticas de alto desempenho, desbloqueando novos níveis de precisão em aplicações de ponta. Com uma gama estendida e a capacidade de adquirir e identificar íons secundários positivos (+ve) e negativos (-ve), a estação de trabalho SIMS é uma solução abrangente para aplicações de análise de composição e perfilagem de profundidade.
Visão geral
A espectrometria de massa de íons secundários, ou SIMS, é uma das técnicas mais sensíveis já desenvolvidas para investigar as camadas superficiais de um material, desde profundidades de várias centenas de nanômetros (nm) até uma única camada atômica. Ela pode obter dados de composição até a faixa de partes por bilhão (ppb) e é compatível com qualquer material que possa ser testado de forma confiável em condições de vácuo. Consequentemente, os instrumentos SIMS são rotineiramente usados para analisar cerâmicas, metais, materiais orgânicos, polímeros, semicondutores e mais.
Esta técnica é dividida em duas metodologias distintas: SIMS dinâmico e estático. Cada uma delas utiliza um feixe de íons primários que impacta uma amostra em condições de vácuo, causando a ablação de volumes extremamente pequenos de material da superfície – uma fração deste material ejetado será ionizada. Esses íons secundários são adquiridos pela entrada da amostra da unidade de espectrometria de massa para desenvolver uma compreensão robusta da composição das camadas superficiais da amostra.
A principal diferença entre SIMS dinâmico e estático é a dosagem de íons (uma dose mais alta para instrumentos SIMS dinâmicos), e que o SIMS dinâmico não pode ser operado com um feixe de íons desfocado; ele deve ser rastreado na superfície da amostra para produzir uma cratera de fundo plano. A estação de trabalho SIMS da Hiden Analytical pode realizar análises SIMS dinâmicas e estáticas em um único instrumento consolidado. Com um espectrômetro de massa MAXIM de modo duplo, a estação de trabalho SIMS pode operar no modo de detecção de íons secundários para detecção de íons +ve/-ve, e no modo de detecção de neutros secundários para quantificação de dados +ve. Cada modo é compatível com opções de faixa de massa de até 5000 unidades de massa atômica (uma).
Estação de trabalho SIMS da Hiden Analytical
Nossa estação de trabalho SIMS é uma solução abrangente para perfilagem de profundidade e análise de composição de amostras em várias áreas de análise de superfície, engenharia de filmes finos, nanotecnologia, pesquisa de células de combustível e mais. O sistema é altamente personalizável para atender aos requisitos únicos dos usuários em campos complexos.
Recursos
- Analisador SIMS Hiden MAXIM operando com MASsoft Professional para análise em ppb
- Ionizador integrado para análise SNMS eficiente
- Opções de fontes de excitação primárias com bombeamento diferencial
- Canhões de gás IG20, césio IG5C, FAB IFG200 ou líquidos de alto desempenho de gálio
- Controle de varredura de canhão de íons integrado com sinal de portão para perfilagem de profundidade
- Opção de canhão de inundação de elétrons para neutralização de carga em estudos de isolantes
- Aquecedores de desbaste de câmara de vácuo
- Transferência rápida de amostras, suporte de amostras e manipulador com trava de carga
- Manipulador UHV para posicionamento ideal da amostra
- Opção de imagem elementar SIMS com programa de imagem SIMS ESM LabVIEW
- Biblioteca Espectral Static SIMS disponível
- Sintonização automática de lentes ópticas de íons SIMS
- Alinhamento de massa automático para desempenho otimizado do SIMS