Fornecemos espectrômetros de massa quadruplares líderes da indústria que viabilizam aplicações de nanotecnologia de ponta.
Desde a análise de superfícies em escala atômica até diagnósticos de vácuo de ultra precisão.
Aqui, você encontrará uma lista abrangente de produtos de espectrometria de massa para a determinação da composição de superfícies, análise de contaminantes e perfilagem de profundidade.
Tecnologia avançada de dessorção térmica projetada para precisão excepcional e versatilidade em uma variedade de aplicações científicas e industriais.
Sistema FIB-SIMS para análise avançada de materiais em nanoescala, proporcionando mapeamento elementar de superfície, perfilagem de profundidade 3D e detecção de elementos em traços com alta sensibilidade e precisão.
O espectrômetro de massa de feixe molecular Hiden HPR-60 é um MS compacto com entrada de skimmer para a análise de plasma atmosférico e intermediários de fase gasosa reativos.
Sistema de análise de superfície XBS da Hiden Analytical: Oferece alta sensibilidade, estabilidade a longo prazo, controle avançado de fonte de íons e resistência aprimorada à contaminação, ideal para monitoramento preciso de múltiplas fontes de feixe em aplicações críticas de deposição molecular.
A Hiden Analytical oferece instrumentação extremamente versátil e de alta sensibilidade para análises SIMS (espectrometria de massa de íons secundários) dinâmicas e estáticas de alto desempenho, desbloqueando novos níveis de precisão em aplicações de ponta. Com uma gama estendida e a capacidade de adquirir e identificar íons secundários positivos (+ve) e negativos (-ve), a estação de trabalho SIMS é uma solução abrangente para aplicações de análise de composição e perfilagem de profundidade.
