Sistema de análise de superfície XBS
SKU: xbs
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Um sistema para monitoramento de múltiplas fontes em aplicações de deposição por MBE (Molecular Beam Epitaxy).
As fontes de feixe molecular exigem controle preciso para o crescimento reprodutível de filmes finos de qualidade. O sistema XBS (Cross Beam Source) da Hiden oferece monitoramento in-situ de múltiplas fontes com saída de sinal em tempo real para controle preciso da deposição. O XBS da Hiden é uma ferramenta excelente utilizada na espectrometria de massa por feixe molecular.
Visão Geral
O sistema Hiden XBS RC é um espectrômetro de massa quadrupolo projetado para monitorar simultaneamente múltiplas fontes de feixe, oferecendo única aceitação de feixe através de um cone de 70°, transversal ao eixo do quadrupolo.
As aberturas de aceitação de feixe são configuradas individualmente para cada posição específica da fonte na câmara de processo, fabricadas como elementos substituíveis para permitir modificação retrospectiva em caso de alteração na câmara.
A alta sensibilidade e a rápida aquisição de dados do sistema XBS fornecem sinais para o controle das taxas de crescimento a partir de 0,01 Ångström por segundo.
Características