Análise de TEM e STEM para caracterização química de alta resolução e observações dinâmicas de alta capacidade.
O microscópio eletrônico de transmissão de campo de emissão de feixe (varredura) Talos F200i da Thermo Scientific é exclusivamente projetado para desempenho e produtividade em uma ampla variedade de amostras e aplicações em Ciência dos Materiais, com faixa de 20-200 kV. Seu espaço para polos X-Twin padrão - proporcionando a maior flexibilidade em aplicações - combinado com uma coluna eletrônica de desempenho reprodutível abre oportunidades para caracterização 2D e 3D de alta resolução, observações dinâmicas in situ e aplicações de difração.
Vantagens do Microscópio Eletrônico de Transmissão Talos F200i
Projetado para ambientes multiusuários e multidisciplinares, o Talos F200i (S)TEM também é ideal para usuários iniciantes. Ele é equipado com a interface do usuário Velox da Thermo Scientific, que é imediatamente familiar porque é compartilhada em todas as plataformas MET da Thermo Scientific. Todos os ajustes diários do MET foram automatizados para fornecer a melhor configuração mais reprodutível. O software de automação Align Genie facilita a curva de aprendizado para operadores iniciantes, reduz as tensões em um ambiente multiusuário e melhora o tempo até a obtenção dos dados para o operador experiente. Um detector de Espectroscopia de Raios-X Dispersiva em Energia (EDS) retrátil pode ser adicionado à configuração para permitir a análise química.
Design compacto
A pegada menor e as dimensões do Talos F200i facilitam acomodar esta ferramenta em espaços mais desafiadores. Além disso, esse design compacto facilita o acesso para as necessidades de serviço e também reduz os custos de infraestrutura e suporte.
Produtividade para todos os usuários
Para aumentar ainda mais a produtividade, especialmente em ambientes multiusuários e multimatéria, as lentes objetivas de potência constante, o design de baixa histerese e a operação remota com a câmera SmartCam permitem mudanças de modo e alta tensão reprodutíveis de forma direta. O Talos F200i (S)TEM também apresenta ajuda educacional online. Basta pressionar F1 com o mouse sobre um painel de controle para abrir rapidamente informações relevantes.
Recursos chave
Disponível com uma ampla gama de canhões de emissão de campo (FEG) de alta resolução
Escolha entre S-FEG, X-FEG de alta luminosidade ou Canhão de emissão de campo frio ultra-alta luminosidade (X-CFEG). O X-CFEG combina a melhor imagem (S)TEM com a melhor resolução de energia.
Disponível com tecnologia Dual EDS
Escolha o melhor detector EDS para suas necessidades, variando de um único detector de 30 mm² a dois detectores de 100 mm² para análise de alta produtividade (ou baixa dose).
Imagens STEM / TEM de alta qualidade e EDS preciso
Adquira imagens MET ou STEM de alta qualidade com a interface do usuário inovadora e intuitiva do software Velox de maneira muito simples. A correção de absorção EDS exclusiva no software Velox permite a quantificação mais precisa.
Melhores capacidades in situ
Adicione porta-amostras de tomografia ou in situ. Câmeras rápidas, software inteligente e nossa ampla lacuna de lentes objetivas X-TWIN permitem a aquisição de dados 3D e in situ com o mínimo de comprometimento da resolução e das capacidades analíticas.
Aumento da produtividade
Coluna ultra-estável e operação remota com a Câmera SmartCam e lentes objetivas de potência constante para comutação rápida de modo e alta voltagem (HT). Comutação rápida e fácil para ambientes de vários usuários.
Dados mais repetíveis
Todos os ajustes diários de MET, como foco, altura eucentric, deslocamento de feixe, abertura de condensador, pontos de pivô de inclinação de feixe e centro de rotação, são automatizados, garantindo que você sempre comece das condições ideais de imagem. Os experimentos podem ser repetidos de forma reprodutível, permitindo mais foco na pesquisa em vez da ferramenta.
Imagem de grande campo de visão em alta velocidade
A câmera Ceta CMOS 4k × 4k com seu amplo campo de visão permite zoom digital ao vivo com alta sensibilidade e alta velocidade em toda a faixa de alta tensão.
Design compacto
A pegada e as dimensões menores do equipamento facilitam acomodá-lo em espaços mais desafiadores, enquanto reduzem os custos de infraestrutura e suporte.
| MET | - Resolução de linha: ≤0,10 nm
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| Sistema operacional XX unidades | - Controlador: Windows® 10
- Controlável remotamente: Sim
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| Sistema de vácuo | - Bombeamento Airlock: livre de óleo e vibração
- Armadilha fria: Padrão
- Dewar de longa duração: Opcional - pelo menos 4 dias de stand-time (entre recargas)
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| Imagem STEM | - Resolução STEM:
- ≤0,16 nm (S-FEG/X-FEG)
- ≤0,14 nm com 100pA (X-CFEG)
- Detectores: HAADF e/ou On-axis Panther BF/DF
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| Espectroscopia de raios X dispersivos de energia (EDS) | - Tamanho do detector (Bruker X-flash): 30, 100 ou duplo 100 mm 2
- Retrátil: Sim, motorizado
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| Espectroscopia de perda de energia eletrônica (EELS) | - ≤0,8 eV (S-FEG/X-FEG)
- ≤0,3 eV (X-CFEG)
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| Brilho da pistola 200 kV | - 4×10 8 A/cm 2 srad (S-FEG)
- 1,8×10 9 A/cm 2 srad (X-FEG)
- 2,4×10 9 A/cm 2 srad (X-CFEG)
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