Microscópio Eletrônico de Transmissão - Themis ETEM

SKU: Themis ETEM

Resolução atômica de Microscopia Eletronica de Transmissão para análise de materiais com um modo ambiental para estudos in situ de MET.

Descrição

Resolução atômica de MET para análise de materiais com um modo ambiental para estudos in situ de MET.


Microscópio Eletrônico de Transmissão - MET ambiental com o Themis ETEM

A observação in situ da dinâmica da estrutura em escalas de comprimento de características de nanoestruturas é extremamente importante se o seu foco for a pesquisa em escala atômica. O Themis ETEM da Thermo Scientific baseia-se no conceito comprovado de Microscópio Eletrônico de Transmissão Ambiental (ETEM) Titan, combinando capacidades padrão de TEM/STEM (microscopia eletrônica de transmissão e microscopia eletrônica de transmissão por varredura) e capacidades dedicadas de TEM ambiental para estudos in situ do comportamento dinâmico de nanomateriais. O Themis ETEM foi projetado como uma plataforma totalmente integrada para experimentos in situ, como exposição de nanoestruturas a ambientes de reação/operacionais gasosos.


Vantagens do MET ambiental

O novo Themis ETEM também se beneficia das características do Thermo Scientific Themis Z S/TEM:


  • Controle preciso e conhecimento da temperatura da amostra em qualquer ambiente gasoso através do estágio de aquecimento NanoEx-i/v.
  • Melhoria da estabilidade da amostra, navegação e correção assistida de desvio de amostra nos eixos x, y e z usando um estágio aprimorado de piezo.
  • Funções avançadas de aquisição de imagens e filmes de alta qualidade, bem como navegação de amostra, combinando velocidade, alta sensibilidade e alta faixa dinâmica com um grande campo de visão em uma única câmera Ceta 16M da Thermo Scientific.
  • Manuseio e processamento de grandes conjuntos de dados com um sistema operacional de 64 bits.


Recursos do Themis ETEM


Automação e facilidade de uso

Por meio do controle total do software de todos os parâmetros operacionais - para usuários novatos e operadores avançados.


Imagem sem janela

Por meio de uma lente objetiva com diferencial de vácuo inovador.


Controle preciso do sistema de vácuo

Incluindo a rápida troca entre diferentes modos de vácuo.


Monitoramento preciso da composição do gás

Por meio de análise de gás reagente integrada via espectrômetro de massa (RGA).


Descontaminação fácil e enxágue do sistema

Por meio do limpador de plasma integrado.


Proteção do canhão de elétrons

Para manter alto vácuo mesmo durante experimentos gasosos.


Controle fino da dose (taxa) de elétrons

Usando configurações flexíveis de lente de canhão e condensador.


Manuseio fácil da amostra

Por meio de uma área de amostra com diferencial de vácuo inovador, capacidade de inclinação dupla completa e compatibilidade com suporte TEM padrão.


Modo de operação seguro

Por meio da conformidade total com regulamentos de segurança e protocolos para manuseio de gases.


Especificações

 Modo padrãoModo ETEM (< 0,5 mbar de nitrogênio)
 Sem corretorimagem de C corrigidaSem corretorimagem de C corrigida
Limite de informação MET (nm)0,100,10 (0,09 mono ligado)0,120,12
Resolução do ponto MET (nm)0,200,100,200,12
Corrente da sonda a 1 nm (nA*)0,60,60,60,6
Corrente da sonda a 1 nm (nA*)0,7 eV0,7 eV0,8 eV0,8 eV
Resolução STEM (nm)0,1360,1360,160,16

Nota: Todas as especificações estão em 300kV.
* Com SFEG. O ETEM também está opcionalmente disponível com X-FEG e monocromador de pistola. Dependendo da opção de filtro de energia, a resolução de energia pode ser de 0,20 eV (0,25eV no modo ETEM).