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Microscópio Eletrônico de Varredura - Scios 2 DualBeam

SKU: Scios 2 DualBeam

O Scios 2 DualBeam da Thermo Scientific é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D para uma a

Descrição

Microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM).

O Scios 2 DualBeam da Thermo Scientific é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D para uma ampla gama de materiais, incluindo materiais magnéticos e não condutores. Com recursos inovadores projetados para aumentar a produtividade, precisão e facilidade de uso, o Scios 2 DualBeam é uma solução ideal para atender às necessidades de cientistas e engenheiros em pesquisa avançada e análise em ambientes de pesquisa acadêmicos, governamentais e industriais.


Caracterização de subsuperfície


A caracterização tridimensional ou subsuperficial é frequentemente necessária para uma melhor compreensão da estrutura e propriedades de uma amostra. O Scios 2 DualBeam, com o software opcional Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4), permite a aquisição totalmente automatizada de conjuntos de dados 3D multimodais de alta qualidade, incluindo imagens de elétrons retroespalhados (BSE) para contraste máximo de materiais, espectroscopia de dispersão de energia (EDS) para informações composicionais, e difração de elétrons retroespalhados (EBSD) para informações microestruturais e cristalográficas. Combinado com o software Thermo Scientific Avizo, o Scios 2 DualBeam oferece uma solução única de fluxo de trabalho para caracterização e análise tridimensional avançada de alta resolução em escala nanométrica.


Imagens de elétrons retroespalhados e elétrons secundários


A coluna eletrônica NICol inovadora fornece a base para as capacidades de imagem e detecção de alta resolução do sistema. Ela oferece excelentes detalhes em escala nanométrica, com uma ampla gama de condições de trabalho, seja operando a 30 keV no modo STEM (para acessar informações estruturais) ou em energias mais baixas (para obter informações detalhadas da superfície sem carga). Com seu exclusivo Sistema de Detecção Trinity da Thermo Scientific embutido na lente, o Scios 2 DualBeam foi projetado para aquisição simultânea de imagens de elétrons secundários angulares e energéticos selecionados (SE) e BSE. O acesso rápido às informações detalhadas em escala nanométrica é possível não só de cima para baixo, mas também em amostras inclinadas ou em seções transversais. Detectores opcionais abaixo da lente e um modo de desaceleração do feixe de elétrons garantem coleta simultânea rápida e fácil de todos os sinais, revelando as menores características na superfície ou seção transversal do material. Resultados rápidos, precisos e reproduzíveis são obtidos graças ao design exclusivo da coluna NICol com alinhamentos automáticos completos.


Preparação de amostra TEM


Cientistas e engenheiros enfrentam constantemente novos desafios que exigem uma caracterização altamente localizada de amostras cada vez mais complexas com recursos cada vez menores. As mais recentes inovações tecnológicas do Scios 2 DualBeam, em combinação com o software opcional e abrangente Thermo Scientific AutoTEM 4, fácil de usar e a expertise em aplicação da Thermo Fisher Scientific, permitem a preparação rápida e fácil de amostras S/TEM de alta resolução para uma ampla gama de materiais em locais específicos. Para obter resultados de alta qualidade, é necessária uma polimento final com íons de baixa energia para minimizar os danos na superfície da amostra. A coluna de Focused Ion Beam (FIB) Thermo Scientific Sidewinder HT não apenas oferece imagem e fresamento de alta resolução em altas voltagens, mas também possui bom desempenho em baixas voltagens, permitindo a criação de lamelas de TEM de alta qualidade.


Características principais


Preparação rápida e fácil

Amostras de alta qualidade, site-específicas para TEM e sonda atômica usando a coluna de íons Sidewinder HT.


Imagem de ultra-alta resolução

Usando a Coluna Eletrônica NICol da Thermo Scientific com desempenho líder de mercado na ampla variedade de amostras, incluindo materiais magnéticos e não condutivos.


As informações mais completas da amostra

Com contraste afiado, refinado e sem carga obtido a partir de uma variedade de detectores integrados na coluna e abaixo da lente.


Informações de subsuperfície e 3D de alta qualidade e multimodais

Acesse informações de subsuperfície e 3D de alta qualidade e multimodais com segmentação precisa da região de interesse usando o software AS&V4 opcional.


Navegação precisa da amostra

Adaptada às necessidades individuais da aplicação graças à alta flexibilidade do estágio de 110 mm e à câmera Nav-Cam da Thermo Scientific na câmara.


Imagem e padronização sem artefatos

Com modos dedicados, como DCFI, supressão de deriva e modos SmartScan da Thermo Scientific.


Otimize sua solução

Atenda aos requisitos específicos da aplicação graças à configuração flexível do DualBeam, incluindo o modo de baixo vácuo opcional com pressão da câmara de até 500 Pa.


Especificações


Resolução do feixe de elétrons

  • WD ideal
  • 0,7 nm a 30 keV HASTE
  • 1,4 nm a 1 keV
  • 1,2 nm a 1 keV com desaceleração do feixe


Espaço de parâmetros do feixe de elétrons

  • Faixa de corrente do feixe: 1 pA a 400 nA
  • Faixa de energia de pouso: 20* eV – 30 keV
  • Faixa de tensão de aceleração: 200 V - 30 kV
  • Largura máxima do campo horizontal: 3,0 mm a 7 mm WD e 7,0 mm a 60 mm WD
  • Campo de visão extra amplo (1×) disponível através da montagem de navegação padrão


Óptica de íons

  • Tensão de aceleração: 500 V - 30 kV
  • Faixa de corrente do feixe: 1,5 pA - 65 nA
  • Faixa de abertura de 15 posições
  • Modo de supressão de deriva como padrão para amostras não condutoras
  • Vida útil mínima da fonte: 1.000 horas
  • Resolução do feixe de íons: 3,0 nm a 30kV usando o método de borda seletiva


Detectores

  • Trinity Detection System (na lente e na coluna)
  • Detector na lente inferior segmentado T1
  • Detector na lente superior T2
  • Detector de coluna retrátil T3 (opcional)
  • Até quatro sinais detectados simultaneamente
  • Detector Everhart-Thornley SE (ETD)
  • Conversão iônica de alto desempenho e detector de elétrons (ICE) para íons secundários (SI) e elétrons (SE) (opcional)
  • Detector de elétrons de retroespalhamento segmentado de baixa voltagem, alto contraste e segmentado (DBS) (Opcional)
  • Detector retrátil STEM 3+ com segmentos BF/ DF/ HAADF (opcional)
  • Câmera IR para visualização de amostra e câmara
  • Câmera de navegação de amostra Nav-Cam na câmara (opcional)
  • Medição de corrente de feixe integrada


Estágio e amostra

  • Estágio motorizado flexível de 5 eixos:
  • Faixa XY: 110 mm
  • Faixa Z: 65 mm
  • Rotação: 360° (sem fim)
  • Faixa de inclinação: -15° a +90°
  • Repetibilidade XY: 3 μm
  • Altura máxima da amostra: Folga de 85 mm até o ponto eucêntrico
  • Peso máximo da amostra com inclinação de 0°: 5 kg (incluindo porta-amostras)
  • Tamanho máximo da amostra: 110 mm com rotação completa (amostra maior possível com rotação limitada)
  • Rotação e inclinação compucêntricas

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