Microscópio Eletrônico de Varredura - Helios 5 PFIB DualBeam

SKU: Helios 5 PFIB DualBeam

Descrição

Microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focado em plasma para preparação de amostras de TEM, incluindo caracterização 3D, seccionamento transversal e microusinagem.

Instrumento de feixe de íons focalizado por plasma

O Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (microscópio eletrônico de varredura com feixe de íons focalizado, ou FIB-SEM) oferece capacidades sem igual para aplicações em ciência de materiais e semicondutores. Para pesquisadores em ciência de materiais, o Helios 5 PFIB DualBeam oferece caracterização 3D de grande volume, preparação de amostras sem gálio e micromaquinagem precisa. Para fabricantes de dispositivos semicondutores, tecnologia avançada de embalagem e dispositivos de display, o Helios 5 PFIB DualBeam oferece desprocessamento de grande área sem danos, preparação rápida de amostras e análise de falhas de alta fidelidade.

Especificações

O Helios 5 PFIB DualBeam possui variações. As especificações vão depender da variação.