Espectrômetro de Fotoelétrons de Raios X para Análise de Superfície de Alto Desempenho
O Sistema de Espectrômetro de Fotoelétrons de Raios X (XPS) Thermo Scientific K-Alpha traz uma nova abordagem para a análise de superfícies. Focado em fornecer resultados de alta qualidade usando um fluxo de trabalho simplificado, o Sistema K-Alpha XPS torna a operação de XPS simples e intuitiva, sem sacrificar desempenho ou capacidades.
Desempenho de última geração, redução no custo de propriedade, maior facilidade de uso e alta produtividade de amostras fazem do Sistema K-Alpha XPS ideal para um ambiente multiusuário. O Sistema K-Alpha XPS oferece a mais pesquisadores ao redor do mundo acesso à análise de superfícies.
Fonte de Raios X de Alto Desempenho
O monocromador de raios X permite a seleção da área de análise de 50 µm a 400 µm em passos de 5 µm, ajustando-se à característica de interesse para maximizar o sinal.
Óptica de Elétrons Otimizada
A lente eletrônica de alta eficiência, o analisador hemisférico e o detector permitem uma excelente detectabilidade e rápida aquisição de dados.
Visualização de Amostras
Traga as características da amostra em foco com o sistema de visualização óptica patenteado do Sistema K-Alpha XPS e o XPS SnapMap, que ajuda a identificar rapidamente as áreas de interesse.
Análise de Isolantes
A fonte de flood de feixe duplo patenteada acopla feixes de íons de baixa energia com elétrons de energia muito baixa (menos de 1 eV) para prevenir o carregamento da amostra durante a análise, eliminando a necessidade, na maioria dos casos, de referência de carga.
Perfilagem de Profundidade
Vá além da superfície com a fonte de íons EX06. A otimização automatizada da fonte e o manuseio de gás garantem excelente desempenho e reprodutibilidade experimental.
Controle Digital
A operação intuitiva, guiada pelo sistema de dados Avantage, torna o Sistema K-Alpha XPS ideal tanto para instalações compartilhadas de multiusuários quanto para especialistas em XPS que valorizam uma operação eficiente e análise de alta produtividade.
Porta-amostras Opcionais
Porta-amostras especializados para XPS resolvido em ângulo, medições de viés de amostra ou para transferência inerte de uma caixa de luvas estão disponíveis.
Especificações
- Tipo de Analisador: Analisador hemisférico de duplo foco de 180°, detector de 128 canais
- Tipo de Fonte de Raios X: Fonte de raios X Al K-Alpha monocromática, micro-focada e de baixa potência
- Tamanho do Ponto de Raios X: 50–400 µm (ajustável em passos de 5 µm)
- Perfilagem de Profundidade: Fonte de íons EX06
- Área Máxima da Amostra: 60x60 mm
- Espessura Máxima da Amostra: 20 mm
- Sistema de Vácuo: Duas bombas turbo moleculares, com bomba de sublimação de titânio automatizada e bomba de apoio
- Acessórios Opcionais: Porta-amostras ADXPS, porta-amostras de função de trabalho, caixa de luvas
