Estes instrumentos oferecem uma abordagem única para a investigação de materiais em escala nanométrica, combinando a capacidade de imagens de alta resolução do MEV com a precisão do feixe de íons focalizados.
O MEV FIB permite a manipulação controlada de amostras, incluindo corte, deposição e nano fabricação, abrindo portas para uma ampla gama de aplicações em áreas como ciências dos materiais, eletrônica e biologia.
Com sua capacidade de realizar análises detalhadas e intervenções precisas em amostras sensíveis, o MEV FIB é uma ferramenta essencial para pesquisadores e profissionais que buscam explorar os limites da microscopia eletrônica.
O Scios 2 DualBeam é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D.
A ferramenta Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo com feixe de íons focalizados por plasma, PFIB-SEM) é versátil e pode ser usada em diversas aplicações.
O Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons de Plasma – Helios 5 PFIB DualBeam combina SEM de alta resolução e FIB de plasma de xenônio para caracterização 3D, preparação avançada de amostras e análise de falhas.
O Thermo Scientific Helios 5 EXL DualBeam é um microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) de wafer inteiro de 300mm, projetado para lidar com os desafios de preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores.
O novo Helios 5 DualBeam baseia-se nas capacidades de imagem e análise de alta performance da família Helios DualBeam líder do setor. É cuidadosamente projetado para atender às necessidades de pesquisadores e engenheiros de ciência de materiais.
Microscópio eletrônico FIB-SEM com ablação a laser de femtossegundos para caracterização 3D de alta resolução e preparação avançada de amostras TEM e APT.
O sistema Thermo Scientific ExSolve wafer TEM prep (WTP) DualBeam (FIB-SEM) reduz drasticamente o custo e aumenta a velocidade da preparação de amostras, fornecendo aos fabricantes de semicondutores e armazenamento de dados acesso rápido e fácil.
O Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo-FIB é a última geração do nosso sistema cryo-DualBeam. Ele é dedicado à preparação de lâminas finas e eletricamente transparentes para tomografia crioeletrônica de alta resolução ou MicroED de microcristais.
