Espectroscopia XPS para Análise de Superfície de Alta Performance
A Tennessine oferece espectrômetros fotoeletrônicos de raios X (XPS) para análise de superfície, proporcionando resultados de alta qualidade com fluxo de trabalho simplificado.
Nossos instrumentos de última geração oferecem desempenho superior, custo de propriedade reduzido e facilidade de uso, tornando-os ideais para ambientes multiusuários.
Perfeitos para investigar a química da superfície e a eficácia da engenharia de superfícies, esses espectrômetros são essenciais para diversas aplicações, como revestimentos de utensílios, eletrônicos de filmes finos e superfícies bioativas.
Microsonda de Espectrômetro de Fotoelétrons de Raios X ESCALAB QXi: alta sensibilidade espectral, re..
O Espectrômetro de Fotoelétrons de Raios X K-Alpha oferece análise de superfície de alta qualidade c..
O Espectrômetro de Fotoelétrons de Raios X Nexsa G2 oferece análise de superfície automatizada de al..