Sistema de Tomografia Computadorizada CT-NANO

SKU: CT-NANO

Nano CT com resolução até 60 nm, SEM e EDX integrados. Análise 3D em nanoescala para pesquisa e indústria. Representação oficial no Brasil.

Descrição

O CT-NANO é um sistema avançado de tomografia computadorizada por raios X em nanoescala (nanoCT) que amplia significativamente as possibilidades de visualização tridimensional para pesquisa de materiais, ciências da vida, recursos naturais e aplicações industriais.

O sistema combina, em uma única plataforma, nanoCT, microscopia eletrônica de varredura (SEM), radiografia digital (DR) e espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDX), permitindo uma análise estrutural e composicional extremamente completa. No Brasil, o CT-NANO e toda a linha de sistemas de tomografia da ProCon X-Ray são representados oficialmente pela Tennessine Instrumentação Analítica, com suporte técnico local, garantia oficial e consultoria especializada.

O CT-NANO oferece a melhor resolução disponível no mercado para essa faixa de energia, possibilitando a inspeção de estruturas e materiais que não podem ser analisados por micro-CTs submicrométricos convencionais. O sistema funciona como um microscópio eletrônico de varredura totalmente operacional, com capacidade de medições em nanoCT, sendo especialmente indicado para ligas metálicas leves, compósitos de fibra e materiais avançados.

Com tamanhos de voxel variando de 30 nm a 10 μm, ampliação geométrica de até 50 nm (FWHM) e energia máxima de fóton de 30 keV, o CT-NANO integra um detector EDS que correlaciona os sinais de fluorescência de raios X (XRF) com o volume reconstruído por tomografia. O sistema utiliza um detector de conversão direta e um campo de visão otimizado, garantindo volumes representativos com nitidez excepcional.

Baseado em um microscópio eletrônico de varredura, o microscópio de raios X do CT-NANO gera o feixe de raios X a partir de um feixe eletrônico focalizado em uma agulha ultrafina, com ponto focal de apenas 70 nm. Como resultado, o nanoCT fornece dados tridimensionais de alta definição, significativamente superiores às imagens obtidas por cortes polidos, permitindo a visualização precisa de fases e estruturas internas.