XPS para SIMS

SKU: XPS para SIMS

A Espectroscopia de Fotoelétrons por Raios-X (XPS) é uma técnica altamente complementar que fornece informações sobre a composição atômica e o estado de ligação química. O XPS pode ser usado para quantificar concentrações elevadas e, portanto, é ideal para fornecer pontos de calibração para a técnica SIMS, que é muito mais sensível.

Descrição

Opção de sistema de ciência de superfície UHV multi-técnica que oferece XPS, UPS, AES, SAM, ISS e LEIS instalados na Estação de Trabalho SIMS da Hiden.

A Espectroscopia de Fotoelétrons por Raios-X (XPS) é uma técnica altamente complementar que fornece informações sobre a composição atômica e o estado de ligação química. O XPS pode ser usado para quantificar concentrações elevadas e, portanto, é ideal para fornecer pontos de calibração para a técnica SIMS, que é muito mais sensível.


Visão Geral

A câmara em duas partes da Estação de Trabalho SIMS da Hiden foi projetada especificamente para montar o upgrade de XPS usando componentes de ponta da SPECS® e, junto com suportes de amostra basculantes, permite a realização das técnicas XPS e SIMS na mesma plataforma UHV sem comprometer a performance.


A série de analisadores PHOIBOS 150 HV é a escolha ideal para análise de XPS de alta energia (HAXPES). Fontes de alimentação de alta voltagem e um design de analisador altamente estável permitem a fotoemissão até uma energia cinética de 7 keV, cobrindo a maioria das fontes de luz de raios-X existentes e instalações de sincrotrons.


Este analisador pode ser operado no modo de alta voltagem e, além disso, em todos os modos de análise relevantes, como (M)XPS, UPS, AES, ISS e LEISS. Seu design e o hardware suplementar modular tornam este analisador o mais versátil analisador de PES no mercado. Ele pode ser facilmente atualizado com todos os sistemas de detecção disponíveis da SPECS.


O detector integrado 1D-DLD é o sistema de detecção de melhor desempenho disponível. A detecção direta de sinais de elétrons fornece contagens quantitativas por segundo (cps). A eletrônica poderosa pode adquirir medições ultra-rápidas do espectro de energia com até 1200 canais de energia, bem como espectros de energia contínuos. Sua baixa taxa de contagem escura e alta linearidade tornam este detector excelente para análise de XPS.


O analisador vem com uma fonte de alimentação altamente estável, o HSA 7000, para melhor desempenho na faixa de energia cinética alta e média até 7000 eV.



Características

- Operação estável em alta voltagem até 7 keV

- Fonte de alimentação precisa e estável

- Detector HV 1D DLD com baixo ruído

- Modos de lente angular e de transmissão