Perguntas Frequentes
Como o Espectrômetro de Massa de Feixe Molecular HPR-60 contribui para análise de plasma atmosférico?
O HPR-60 é projetado para analisar neutros, radicais e íons em plasmas atmosféricos, permitindo estudos detalhados da química de reações em fase gasosa e intermediários reativos, essenciais para otimizar processos de filmes finos e engenharia de superfície.
Quais são as principais aplicações do Compact SIMS na engenharia de superfície?
O Compact SIMS é usado para análise de estruturas de camadas, identificação de contaminação de superfície e mapeamento de impurezas, com sensibilidade isotópica em toda a tabela periódica e resolução de profundidade em nanômetros.
O que diferencia o Sistema de Análise de Superfície XBS em aplicações de deposição molecular?
O XBS oferece alta sensibilidade, controle avançado da fonte de íons e resistência à contaminação, tornando-o ideal para monitoramento preciso de múltiplas fontes de feixe em deposição de filmes finos e revestimentos funcionais.
Como a Estação de Trabalho SIMS auxilia na caracterização de materiais em filmes finos?
A Estação de Trabalho SIMS proporciona análise dinâmica e estática de íons secundários, com alta sensibilidade para mapeamento de composição química e perfilagem de profundidade em materiais complexos como semicondutores e revestimentos ópticos.
Qual é a função do Canhão de Íons IG5C em análises SIMS?
O IG5C é projetado como uma fonte compacta de íons primários para análises SIMS dinâmicas, estáticas e de imagem, oferecendo alta precisão em aplicações que exigem controle de profundidade em nanômetros e detecção de traços.
