Difratômetro XRD de Alta Resolução para Filmes Finos Proto AXRD HR

Sistema de Difração de Raios X em Pó de Alta Resolução AXRD HR

SKU: AXRD HR

AXRD HR: sistema de difração de raios X de alta resolução para filmes finos, multicamadas e cristais únicos. Inclui XRR, rocking curves e RSM com máxima precisão.

O Proto AXRD HR é um sistema de difração de raios X em pó de altíssima resolução, desenvolvido para caracterização avançada de filmes finos epitaxiais, multicamadas e cristais únicos.

Equipado com um goniômetro inovador, motores e codificadores de última geração, o AXRD HR entrega o mais alto padrão de exatidão angular e estabilidade, sendo ideal para aplicações em pesquisa de materiais, semicondutores, óptica de precisão e física do estado sólido.

O sistema permite realizar experimentos de alta complexidade, como reflectometria de raios X (XRR), rocking curves e mapeamento de espaço recíproco (RSM), possibilitando análises quantitativas e qualitativas de estrutura, tensão, composição e defeitos cristalinos com precisão incomparável.

Reflectometria de Raios X (XRR)

A reflectometria de raios X permite a caracterização física da superfície e interfaces de filmes finos. O AXRD HR realiza medições precisas em:

Parâmetros obtidos:

Rocking Curves de Alta Resolução

As rocking curves (curvas de oscilação) são essenciais para determinar a qualidade cristalina de filmes monocristalinos e substratos. O sistema possibilita:

Esses recursos tornam o AXRD HR ideal para aplicações em epitaxia, optoeletrônica e nanotecnologia.

Mapeamento de Espaço Recíproco (RSM)

O RSM de alta resolução fornecido pelo AXRD HR permite analisar:

Essa técnica oferece o máximo de informação estrutural em materiais multicamadas complexos, permitindo diferenciação precisa de efeitos estruturais sobre as propriedades difratadas.

Aplicações Principais

Sistema de Difração de Raios X em Pó de Alta Resolução AXRD HR

O Proto AXRD HR é um sistema de difração de raios X em pó de altíssima resolução, desenvolvido para caracterização avançada de filmes finos epitaxiais, multicamadas e cristais únicos.

Equipado com um goniômetro inovador, motores e codificadores de última geração, o AXRD HR entrega o mais alto padrão de exatidão angular e estabilidade, sendo ideal para aplicações em pesquisa de materiais, semicondutores, óptica de precisão e física do estado sólido.

O sistema permite realizar experimentos de alta complexidade, como reflectometria de raios X (XRR), rocking curves e mapeamento de espaço recíproco (RSM), possibilitando análises quantitativas e qualitativas de estrutura, tensão, composição e defeitos cristalinos com precisão incomparável.

Reflectometria de Raios X (XRR)

A reflectometria de raios X permite a caracterização física da superfície e interfaces de filmes finos. O AXRD HR realiza medições precisas em:

Parâmetros obtidos:

Rocking Curves de Alta Resolução

As rocking curves (curvas de oscilação) são essenciais para determinar a qualidade cristalina de filmes monocristalinos e substratos. O sistema possibilita:

Esses recursos tornam o AXRD HR ideal para aplicações em epitaxia, optoeletrônica e nanotecnologia.

Mapeamento de Espaço Recíproco (RSM)

O RSM de alta resolução fornecido pelo AXRD HR permite analisar:

Essa técnica oferece o máximo de informação estrutural em materiais multicamadas complexos, permitindo diferenciação precisa de efeitos estruturais sobre as propriedades difratadas.

Aplicações Principais