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Difusividade e Condutividade Térmica - NanoTR/PicoTR

SKU: LFA 427

Os sistemas NanoTR e PicoTR da PicoTherm utilizam métodos de termorrefletância no domínio do tempo para medições precisas de difusividade e condutividade térmica de filmes finos na faixa de nanômetros, essenciais para a gestão térmica em dispositivos eletrônicos modernos.

Descrição

NanoTR/PicoTR - Termorrefletância no Domínio do Tempo por Aquecimento com Luz Pulsada


Destaques

Método para Determinação da Difusividade Térmica na Faixa de Espessura de Nanômetros

Métodos de Termorrefletância no Domínio do Tempo


Com o significativo progresso no design de dispositivos eletrônicos e a necessidade associada de uma gestão térmica eficiente, medições precisas de difusividade térmica e condutividade térmica na faixa de nanômetros são mais cruciais do que nunca.


O Instituto Nacional de Ciência e Tecnologia Avançada (AIST), no Japão, já respondeu às exigências industriais com o desenvolvimento de um "método de termorrefletância por aquecimento com luz pulsada" no início dos anos 90. A PicoTherm Corporation foi estabelecida em 2008 com o lançamento de um aparato de termorrefletância de nanossegundos "NanoTR" e um aparato de termorrefletância de picossegundos "PicoTR", que permite medições absolutas da difusividade térmica de filmes finos em uma faixa de espessura de várias dezenas de μm até a faixa de nanômetros.


Em outubro de 2020, a PicoTherm juntou-se ao Grupo NETZSCH como subsidiária da NETZSCH Japão. Em combinação com nossos sistemas LFA, a NETZSCH pode agora oferecer a solução para filmes finos na faixa de nanômetros até materiais a granel na faixa de mm.


Especificações


NanoTR

Laser de Bomba

    • Largura do pulso: 1 ns
    • Comprimento de onda: 1550 nm
    • Diâmetro do feixe: 100 μm


    Laser de Sonda

    • Largura do pulso: contínuo
    • Comprimento de onda: 785 nm
    • Diâmetro do feixe: 50 μm


    Itens de Medição: Difusividade térmica e efusividade, resistência interfacial


    Espessura do Filme de Amostra (Método RF)

    • Resina: 30 nm ... 2 μm
    • Cerâmicas: 300 nm ... 5 μm
    • Metal: 1 μm ... 20 μm


    Espessura do Filme de Amostra (Método FF): Superior a 1 μm


    Substrato

    • Material: Opaco/Transparente
    • Tamanho: 10 ... 20 mm quadrado
    • Espessura: 1 mm máx.


    Difusividade Térmica

    • Faixa: 0.01 ... 1000 mm²/s
    • Precisão: ± 6.2% com 40 min de tempo de medição, para CRM 5808A no Modo RF, espessura de 400 nm
    • Repetibilidade: ± 5%


    Software

      Cálculo de propriedades térmicas, análise de multicamadas, banco de dados


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