A Tennessine é distribuidora autorizada no Brasil da Thermo Scientific (Thermo Fisher Scientific), oferecendo instrumentos de ponta como analisadores portáteis XRF Niton, espectrofotômetros UV-Vis, espectrômetros FTIR e Raman, sistemas XPS e OES, além de microscópios eletrônicos. Com suporte técnico local, treinamento especializado e garantia oficial, a Tennessine garante que laboratórios e centros de pesquisa no Brasil tenham acesso a soluções completas em espectroscopia, microscopia eletrônica e análise química avançada.
Microscópio eletrônico de transmissão (MET) para caracterização de alta produtividade e resolução de amostras em MET e STEM com quantificação química.
Microscópio MET e STEM de alto rendimento para todas as aplicações em ciência dos materiais.
Com um desempenho líder na indústria em transferência de métodos, o Analisador FT-NIR Antaris II oferece calibrações robustas e confiáveis que podem ser migradas do laboratório para análises em linha, em tempo real e em processo.
O Thermo Scientific Helios 5 EXL DualBeam é um microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) de wafer inteiro de 300mm, projetado para lidar com os desafios de preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores.
O Scios 2 DualBeam é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D.
Projetado tanto para análises de rotina quanto para aplicações de pesquisa, o Espectrômetro Nicolet Apex da Thermo Scientific oferece desempenho e versatilidade incomparáveis.
O DXR3 Flex é um espectrômetro Raman de bancada para integração com técnicas analíticas e processos. Tecnologia Thermo Fisher com suporte oficial Tennessine no Brasil.
Espectrômetro FTIR Nicolet Summit PRO - O mais alto desempenho em um design integrado e economizador de espaço
A base deste suporte de amostra Thermo Scientific™ é a mesma do Suporte de Amostra Padrão, exceto que este suporte é projetado para suportar amostras montadas em resina. Este suporte é a solução preferida para metalurgia e ao trabalhar com inserções
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Microscópio TEM e STEM versátil para visualização 2D e 3D de amostras e materiais sensíveis ao feixe usando alto contraste.
Microscópio de alta resolução MET e STEM para todas as aplicações em ciência de materiais e semicondutores.
Microscópio eletrônico FIB-SEM com ablação a laser de femtossegundos para caracterização 3D de alta resolução e preparação avançada de amostras TEM e APT.
Este suporte de amostras é projetado para reduzir a carga estática nas amostras e eliminar a preparação adicional de amostras não condutivas.
A ferramenta Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo com feixe de íons focalizados por plasma, PFIB-SEM) é versátil e pode ser usada em diversas aplicações.
O Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons de Plasma – Helios 5 PFIB DualBeam combina SEM de alta resolução e FIB de plasma de xenônio para caracterização 3D, preparação avançada de amostras e análise de falhas.
