A Tennessine é distribuidora autorizada no Brasil da Thermo Scientific (Thermo Fisher Scientific), oferecendo instrumentos de ponta como analisadores portáteis XRF Niton, espectrofotômetros UV-Vis, espectrômetros FTIR e Raman, sistemas XPS e OES, além de microscópios eletrônicos. Com suporte técnico local, treinamento especializado e garantia oficial, a Tennessine garante que laboratórios e centros de pesquisa no Brasil tenham acesso a soluções completas em espectroscopia, microscopia eletrônica e análise química avançada.
Microscópio MET e STEM de alto rendimento para todas as aplicações em ciência dos materiais.
O Thermo Scientific Helios 5 EXL DualBeam é um microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) de wafer inteiro de 300mm, projetado para lidar com os desafios de preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores.
Microscópio de alta resolução MET e STEM para todas as aplicações em ciência de materiais e semicondutores.
TEM-228x228.png)
Microscópio TEM e STEM versátil para visualização 2D e 3D de amostras e materiais sensíveis ao feixe usando alto contraste.
O Scios 2 DualBeam é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D.
O Espectrômetro de RMN Thermo Scientific™ picoSpin™ 80 Series II é um instrumento compacto e acessível que proporciona à comunidade educacional de química uma ferramenta prática para identificação química. Ele melhora a aprendizagem dos alunos com sua ope
A base deste suporte de amostra Thermo Scientific™ é a mesma do Suporte de Amostra Padrão, exceto que este suporte é projetado para suportar amostras montadas em resina. Este suporte é a solução preferida para metalurgia e ao trabalhar com inserções
Com um desempenho líder na indústria em transferência de métodos, o Analisador FT-NIR Antaris II oferece calibrações robustas e confiáveis que podem ser migradas do laboratório para análises em linha, em tempo real e em processo.
Espectrômetro FTIR Nicolet Summit PRO - O mais alto desempenho em um design integrado e economizador de espaço
Microscópio eletrônico de transmissão de alta produtividade para metrologia de semicondutores e caracterização de processos.
O sistema Thermo Scientific ExSolve wafer TEM prep (WTP) DualBeam (FIB-SEM) reduz drasticamente o custo e aumenta a velocidade da preparação de amostras, fornecendo aos fabricantes de semicondutores e armazenamento de dados acesso rápido e fácil.
O DXR3 Flex é um espectrômetro Raman de bancada para integração com técnicas analíticas e processos. Tecnologia Thermo Fisher com suporte oficial Tennessine no Brasil.
O Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons de Plasma – Helios 5 PFIB DualBeam combina SEM de alta resolução e FIB de plasma de xenônio para caracterização 3D, preparação avançada de amostras e análise de falhas.
A ferramenta Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo com feixe de íons focalizados por plasma, PFIB-SEM) é versátil e pode ser usada em diversas aplicações.
Microscópio eletrônico FIB-SEM com ablação a laser de femtossegundos para caracterização 3D de alta resolução e preparação avançada de amostras TEM e APT.
