Thermo Fisher Scientific

Thermo Fisher Scientific é líder global em instrumentação científica, oferecendo um portfólio completo de soluções para pesquisa e análise em todas as áreas científicas, com destaque para Espectroscopia e Microscopia Eletrônica.

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Microscópio Eletrônico de Transmissão - Spectra 200 TEM

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Spectra 200 TEM

Microscópio MET e STEM de alto rendimento para todas as aplicações em ciência dos materiais.

Microscópio Eletrônico de Varredura -  Helios 5 EXL DualBeam

Microscópio Eletrônico de Varredura - Helios 5 EXL DualBeam

O Thermo Scientific Helios 5 EXL DualBeam é um microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) de wafer inteiro de 300mm, projetado para lidar com os desafios de preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores.

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Spectra 300 TEM

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Spectra 300 TEM

Microscópio de alta resolução MET e STEM para todas as aplicações em ciência de materiais e semicondutores.

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Talos L120C G2 (S)TEM

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Talos L120C G2 (S)TEM

Microscópio TEM e STEM versátil para visualização 2D e 3D de amostras e materiais sensíveis ao feixe usando alto contraste.

Porta Amostras Metalográficas

Porta Amostras Metalográficas

A base deste suporte de amostra Thermo Scientific™ é a mesma do Suporte de Amostra Padrão, exceto que este suporte é projetado para suportar amostras montadas em resina. Este suporte é a solução preferida para metalurgia e ao trabalhar com inserções

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Metrios AX TEM

Microscópio Eletrônico de Transmissão - Metrios AX TEM

Microscópio eletrônico de transmissão de alta produtividade para metrologia de semicondutores e caracterização de processos.

Microscópio Eletrônico de Varredura - Helios 5 PFIB DualBeam

Microscópio Eletrônico de Varredura - Helios 5 PFIB DualBeam

O Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (microscópio eletrônico de varredura com feixe de íons focalizado, ou FIB-SEM) oferece capacidades sem igual para aplicações em ciência de materiais e semicondutores.

Microscópio Eletrônico de Varredura - Scios 2 DualBeam

Microscópio Eletrônico de Varredura - Scios 2 DualBeam

O Scios 2 DualBeam da Thermo Scientific é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D para uma a

Suporte de amostra de redução de carga

Suporte de amostra de redução de carga

Este suporte de amostras é projetado para reduzir a carga estática nas amostras e eliminar a preparação adicional de amostras não condutivas.

Porta-amostras com passagem elétrica

Porta-amostras com passagem elétrica

O suporte de amostra com alimentação elétrica da Thermo Scientific™ permite que os usuários conectem sondas elétricas à amostra para medições in-situ.

Analisador FT-NIR Antaris II

Analisador FT-NIR Antaris II

Com um desempenho líder na indústria em transferência de métodos, o Analisador FT-NIR Antaris II oferece calibrações robustas e confiáveis que podem ser migradas do laboratório para análises em linha, em tempo real e em processo.

Microscópio Eletrônico de Varredura - FIB-SEM and Laser Ablation

Microscópio Eletrônico de Varredura - FIB-SEM and Laser Ablation

Os sistemas a laser Thermo Scientific Helios 5 PFIB combinam a fresagem de íons focalizados de plasma com a ablação a laser de femtossegundos e a imagem de SEM (microscopia eletrônica de varredura). Essa combinação "TriBeam" permite imagens e an

Espectrômetro RMN picoSpin™ 80 Series II

Espectrômetro RMN picoSpin™ 80 Series II

O Espectrômetro de RMN Thermo Scientific™ picoSpin™ 80 Series II é um instrumento compacto e acessível que proporciona à comunidade educacional de química uma ferramenta prática para identificação química. Ele melhora a aprendizagem dos alunos com sua ope

Suporte de amostra com inclinação e rotação motorizadas

Suporte de amostra com inclinação e rotação motorizadas

Descobrir os tesouros escondidos de todas as características de sua amostra agora é possível com o Suporte de Amostra Motorizado de Inclinação e Rotação da Thermo Scientific™. As amostras podem ter linhas e furos, ou ter estruturas de múltiplas camadas.

Microscópio Eletrônico de Varredura - ExSolve Wafer TEM Prep DualBeam

Microscópio Eletrônico de Varredura - ExSolve Wafer TEM Prep DualBeam

O sistema Thermo Scientific ExSolve wafer TEM prep (WTP) DualBeam (FIB-SEM) reduz drasticamente o custo e aumenta a velocidade da preparação de amostras, fornecendo aos fabricantes de semicondutores e armazenamento de dados acesso rápido e fácil aos dados