Thermo Fisher Scientific é líder global em instrumentação científica, oferecendo um portfólio completo de soluções para pesquisa e análise em todas as áreas científicas, com destaque para Espectroscopia e Microscopia Eletrônica.
Microscópio MET e STEM de alto rendimento para todas as aplicações em ciência dos materiais.
O Thermo Scientific Helios 5 EXL DualBeam é um microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) de wafer inteiro de 300mm, projetado para lidar com os desafios de preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores.
Microscópio de alta resolução MET e STEM para todas as aplicações em ciência de materiais e semicondutores.
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Microscópio TEM e STEM versátil para visualização 2D e 3D de amostras e materiais sensíveis ao feixe usando alto contraste.
O Scios 2 DualBeam é um sistema de microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados (FIB-SEM) analítico de ultra-alta resolução que oferece excelente desempenho na preparação de amostras e caracterização 3D.
A base deste suporte de amostra Thermo Scientific™ é a mesma do Suporte de Amostra Padrão, exceto que este suporte é projetado para suportar amostras montadas em resina. Este suporte é a solução preferida para metalurgia e ao trabalhar com inserções
O Espectrômetro de RMN Thermo Scientific™ picoSpin™ 80 Series II é um instrumento compacto e acessível que proporciona à comunidade educacional de química uma ferramenta prática para identificação química. Ele melhora a aprendizagem dos alunos com sua ope
Com um desempenho líder na indústria em transferência de métodos, o Analisador FT-NIR Antaris II oferece calibrações robustas e confiáveis que podem ser migradas do laboratório para análises em linha, em tempo real e em processo.
Espectrômetro FTIR Nicolet Summit PRO - O mais alto desempenho em um design integrado e economizador de espaço
Microscópio eletrônico de transmissão de alta produtividade para metrologia de semicondutores e caracterização de processos.
O Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons de Plasma – Helios 5 PFIB DualBeam combina SEM de alta resolução e FIB de plasma de xenônio para caracterização 3D, preparação avançada de amostras e análise de falhas.
Microscópio eletrônico FIB-SEM com ablação a laser de femtossegundos para caracterização 3D de alta resolução e preparação avançada de amostras TEM e APT.
O sistema Thermo Scientific ExSolve wafer TEM prep (WTP) DualBeam (FIB-SEM) reduz drasticamente o custo e aumenta a velocidade da preparação de amostras, fornecendo aos fabricantes de semicondutores e armazenamento de dados acesso rápido e fácil.
A ferramenta Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo com feixe de íons focalizados por plasma, PFIB-SEM) é versátil e pode ser usada em diversas aplicações.
Este suporte de amostras é projetado para reduzir a carga estática nas amostras e eliminar a preparação adicional de amostras não condutivas.
