O Proto AXRD LPD é o sistema de difração de raios X em pó (XRD) mais potente, preciso e personalizável da linha AXRD.
Projetado para laboratórios que demandam máxima flexibilidade e controle total sobre as condições experimentais, o AXRD LPD permite a troca rápida e fácil de ópticas, estágios de amostra, células ambientais e detectores, adaptando-se a diversas aplicações — de cristais únicos a filmes finos e materiais em pó.
Com precisão angular superior (< ±0,01° Δ2θ em toda a faixa angular) e arquitetura modular, este sistema atende com excelência experimentos que exigem controle rigoroso, variações térmicas e mecânicas ou técnicas de alta resolução. Ideal para universidades, centros de pesquisa e indústrias com demandas analíticas avançadas.
Alta Potência e Versatilidade de Configuração
O AXRD LPD oferece:
- Fonte de raios X de alta potência
- Design multifuncional com fácil intercambiabilidade de componentes
- Suporte a geometrias variadas e análises no plano
- Compatibilidade com células de temperatura, pressão e umidade
- Flexibilidade para trabalhar com difração convencional, filmes finos, revestimentos e materiais granulares
A modularidade do sistema garante que, conforme as suas necessidades evoluem, o AXRD LPD pode ser reconfigurado para novas aplicações, sem necessidade de substituição do equipamento principal.
Aplicações Típicas
- Identificação e quantificação de fases
- Grau de cristalinidade e deformações cristalinas
- Análise de tensão residual e austenita retida
- Caracterização de filmes finos e coatings
- Refinamento estrutural (Rietveld)
- Difração fora do plano (in-plane XRD)
- Análises de estrutura de rede e parâmetros de célula unitária
- Curvas de refletividade (XRR), rocking curves e mapas de espaço recíproco
- Textura, figuras de polo e análise de orientação
Software XRDWIN PD + PDAnalysis
O AXRD LPD é operado por uma suíte de softwares altamente robusta e intuitiva:
XRDWIN PD
Software de coleta de dados customizável para digitalizações XRD, com suporte a varreduras múltiplas em diferentes condições experimentais (temperatura, pressão, geometria). Inclui comandos de calibração e alinhamento automatizados.
PDAnalysis
Plataforma de análise de dados com licenças ilimitadas e sem custo adicional, oferecendo:
- Identificação de fases (com busca em COD/ICDD)
- Análise quantitativa e Rietveld
- Cristalinidade, tamanho e tensão de cristalitos
- Textura, tensão residual, figuras de polo, austenita retida
- XRF (com detector SPD)
- Análises de alta resolução: XRR, rocking curves, mapas recíprocos
