Difratômetro de Raios X em Pó Modular de Alta Precisão AXRD LPD

SKU: AXRD LPD

Difratômetro XRD modular de alta precisão para análise de fases, filmes finos, monocristais e refinamento de Rietveld. Fonte até 3000 W.

Descrição

O AXRD LPD é um difratômetro de raios X em pó de alta potência desenvolvido para laboratórios que exigem máxima flexibilidade experimental, precisão analítica e capacidade de expansão.

Considerado a plataforma modular definitiva da linha AXRD, o sistema permite a rápida substituição de componentes ópticos, detectores, estágios de amostras e células ambientais por meio de um exclusivo sistema de troca sem ferramentas e com alinhamento pré-configurado.

Projetado para acompanhar a evolução das demandas analíticas, o AXRD LPD pode ser configurado desde um difratômetro convencional para análise de pós até um sistema avançado para caracterização de filmes finos, monocristais e aplicações de alta resolução. Sua arquitetura modular garante proteção ao investimento e permite que o equipamento seja adaptado a novas técnicas e requisitos experimentais ao longo do tempo.

Com precisão angular superior a < ±0,01° Δ2θ em toda a faixa angular, o AXRD LPD oferece desempenho excepcional para desafios complexos de difração de raios X, tornando-se uma ferramenta ideal para universidades, centros de pesquisa, laboratórios de desenvolvimento de materiais e indústrias que demandam análises estruturais avançadas.

Representado no Brasil pela Tennessine Instrumentação Analítica, distribuidora autorizada da PROTO, com suporte técnico local, treinamento especializado e assistência pós-venda. 

Aplicações

O AXRD LPD foi desenvolvido para uma ampla variedade de materiais e aplicações analíticas, incluindo:

  • Amostras em pó e materiais a granel
  • Microdifração
  • Filmes finos e revestimentos
  • Monocristais
  • Pesquisa e descoberta de novos materiais
  • Controle de qualidade e desenvolvimento de processos
  • Manipulação de amostras de alto rendimento
  • Configurações experimentais personalizadas

Capacidades Analíticas

O sistema oferece recursos avançados para caracterização estrutural e microestrutural de materiais:

  • Identificação e quantificação de fases
  • Refinamento estrutural por método de Rietveld
  • Análise de textura e microestrutura
  • Medição de tensão residual
  • Quantificação de austenita retida
  • Difração de incidência rasante (GID)
  • Difração no plano (In-Plane XRD)
  • Reflectometria de raios X (XRR)
  • Rocking Curves
  • Mapeamento de Espaço Recíproco (RSM)
  • Pair Distribution Function (PDF)
  • Solução estrutural
  • SAXS e WAXS
  • Caracterização avançada de filmes finos e revestimentos

Configuração Modular para Máxima Flexibilidade

Fontes de Raios X

O AXRD LPD pode ser equipado com fontes de raios X de alta potência de até: 3000 W (60 kV / 50 mA)

Disponível com tubos de raios X para diferentes aplicações: Cu, Cr, Co, Mn, Mo, V, Ag

Óptica de Raios X

Diversas configurações ópticas podem ser instaladas para otimizar a resolução, intensidade e geometria de medição:

  • Óptica multicamadas paralela
  • Óptica multicamadas focalizada
  • Analisador de placas paralelas
  • Cristal Johansson Kα1
  • Cristal de germânio de duas reflexões

Câmaras Ambientais

O sistema pode ser configurado com câmaras para condições especiais de análise:

  • Alta temperatura
  • Pressão controlada
  • Baixo vácuo
  • Alto vácuo

Acessórios Disponíveis

O AXRD LPD oferece uma ampla gama de acessórios para atender aplicações específicas:

  • Berço Euleriano
  • Estágio de rotação Phi
  • Estágio de mapeamento XY
  • Estágio de inclinação bidirecional
  • Ajuste de altura da amostra
  • Estágio de reflexão/transmissão

Software XRDWIN PD e PDAnalysis

XRDWIN PD

O software XRDWIN PD foi desenvolvido para proporcionar máxima flexibilidade na aquisição de dados de difração de raios X. O sistema permite configurar varreduras personalizadas e executar experimentos complexos envolvendo diferentes temperaturas, pressões, geometrias e condições ambientais.

Os recursos automáticos de alinhamento e calibração simplificam a operação, tornando o equipamento acessível tanto para usuários iniciantes quanto para pesquisadores experientes.

PDAnalysis

O software PDAnalysis acompanha o sistema com licenças ilimitadas, permitindo a análise de dados em múltiplos computadores sem custos adicionais.

Entre suas funcionalidades destacam-se:

  • Identificação de fases
  • Busca em bancos de dados COD e ICDD
  • Análise quantitativa de fases
  • Refinamento de Rietveld
  • Grau de cristalinidade
  • Tamanho e deformação de cristalitos
  • Refinamento e indexação de parâmetros de rede
  • Austenita retida
  • Tensão residual
  • Figuras de polo e textura
  • Análise XRF com detector SPD
  • Reflectometria de Raios X (XRR)
  • Rocking Curves
  • Mapeamento de Espaço Recíproco (RSM)

Diferenciais e Benefícios

  • Plataforma modular e expansível
  • Troca rápida de componentes sem ferramentas
  • Precisão angular < ±0,01° Δ2θ
  • Fontes de raios X de até 3000 W
  • Compatível com análises de pó, filmes finos e monocristais
  • Integração com câmaras ambientais e estágios especializados
  • Software completo para aquisição e análise de dados
  • Ideal para pesquisa avançada, desenvolvimento de materiais e controle de qualidade