Encontre na Tennessine - Instrumentação Analítica o melhor Microscopia Eletrônica de Varredura por Feixe de Íons Focalizados - MEV FIB para sua aplicação.

Estes instrumentos oferecem uma abordagem única para a investigação de materiais em escala nanométrica, combinando a capacidade de imagens de alta resolução do MEV com a precisão do feixe de íons focalizados.

O MEV FIB permite a manipulação controlada de amostras, incluindo corte, deposição e nano fabricação, abrindo portas para uma ampla gama de aplicações em áreas como ciências dos materiais, eletrônica e biologia.

Com sua capacidade de realizar análises detalhadas e intervenções precisas em amostras sensíveis, o MEV FIB é uma ferramenta essencial para pesquisadores e profissionais que buscam explorar os limites da microscopia eletrônica.