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Proto AXRD HR - Sistema de Difração de Raios X em Pó de Alta Resolução

SKU: AXRD HR

O AXRD HR possui os recursos necessários para realizar experimentos de alta resolução em seus filmes finos epitaxiais, revestimentos multicamadas e cristais únicos

Descrição

O AXRD HR possui um inovador goniômetro projetado para fornecer o máximo em exatidão e precisão. Utilizando os mais recentes avanços na tecnologia de motores e codificadores, este sistema possui os recursos necessários para realizar experimentos de alta resolução em seus filmes finos epitaxiais, revestimentos multicamadas e cristais únicos.


Com este sistema especializado, você pode executar a reflectometria de raios X (XRR) para caracterizar as propriedades da superfície física de seus filmes finos, revestimentos multicamadas e interfaces. Curvas de balanço de alta resolução podem ser usadas para analisar filmes epitaxiais de cristal único e determinar a perfeição cristalina de monocristais e policristais. Finalmente, mapas de espaços recíprocos fornecem informações valiosas sobre filmes finos epitaxiais e possibilitam a análise de filmes tensionados.


REFLECTOMETRIA DE RAIOS X (XRR)

Caracterize as propriedades físicas da superfície de seus filmes finos, revestimentos multicamadas e interfaces. Potencialidades:



- Espessura da camada

- Rugosidade da superfície e da interface

- Densidade

- Composição química


Camadas amorfas, policristalinas e monocristalinas podem ser analisadas.


ROCKING CURVES

Rocking curves de alta resolução podem ser usadas para analisar filmes epitaxiais monocristalinos e determinar a perfeição cristalina de monocristais (macroscópicos). Potencialidades:

- Composição e espessura de camadas.

- Incompatibilidade, relaxação (microdeformação da rede)

- Desvio da camada, curvatura e desorientação cristalina

- Mosaicidade

- Densidade de discordâncias



MAPEAMENTO DO ESPAÇO RECÍPROCO

Essa técnica de alta resolução fornece o máximo de informações sobre filmes finos epitaxiais e é necessária para analisar as tensões em filmes. Potencialidades:


- Separar os efeitos de deslocamento do pico de Bragg para permitir a determinação precisa de deformação, composição, parâmetros de rede e espessura da camada.

- Distinguir entre deformação e mudanças de composição

- Distinguir o alargamento devido à mosaicidade ou curvatura.


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