Proto LXRD - Sistema de Medição de Austenita Retida e Tensão Residual por Difração de Raios X
SKU: LXRD
info@tennessine.com.br
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SEGURANÇA E PROTEÇÃO
Nossos sistemas são construídos com a sua segurança e a proteção a longo prazo do seu instrumento. Todos os nossos instrumentos estão em conformidade com os regulamentos ANSI N43.2, fornecendo proteção total contra radiação. As condições térmicas e operacionais são exibidas claramente em um painel de monitoramento diretamente conectado ao sensor de fluxo, tubo de raios X, fonte de alimentação de alta tensão e intertravamentos das portas. Os indicadores luminosos de raios X e obturador notificam convenientemente o operador sobre o status do feixe de raios X.
DETECTORES DE RAIO X DE ESTADO DA ARTE DA PROTO
Os detectores de cintilação sensíveis à posição (PSSD) patenteados pela PROTO fornecem velocidade e estabilidade insuperáveis, além de uma ampla faixa 2θ. Ao contrário de outros detectores de raios X, os PSSD Proto não se deterioram com a exposição aos raios X. Não são necessárias substituições. Nossos sistemas estão equipados com dois detectores para determinação precisa da tensão de cisalhamento. Os detectores podem ser posicionados rapidamente entre ômega (método Psi) ou geometria de inclinação lateral modificada (método Chi modificado). Este detector PSSD está disponível em uma faixa 2θ padrão, uma faixa 2θ estendida e um pacote miniatura para nossos goniômetros miniatura especiais.
SOFTWARE
No centro de todo sistema LXRD está o poderoso e fácil de usar software PROTO XRDWIN 2.0. Nosso software é um pacote abrangente de coleta de dados e análise de tensão compatível com o Windows® e com recursos como regressão linear e elíptica, Dolle-Hauk e métodos triaxiais. As funções avançadas de ajuste de pico incluem: parabolic, Gaussian, Pearson VII, Cauchy, centroid, centered centroid, and mid-chord. As exibições dos gráficos de intensidade de pico, largura, FWHM e sin2ψ fornecem resultados informativos e compreensíveis. As exibições dos gráficos de intensidade de pico, largura, FWHM e sin2ψ fornecem resultados informativos e compreensíveis. Utilitários de software para determinação de XEC, tensão inicial, remoção de material, profundidade de penetração e austenita retida, figuras de polos e tensão de monocristais completam o pacote.
FACILIDADE E VERSATILIDADE DE USO
Todos os nossos LXRDs possuem recursos que os tornam fáceis e versáteis de usar. Um goniômetro de alto desempenho mantém a precisão exigidas pela ASTM E915 em um projeto de baixa manutenção. A ponteira de foco manual permite o posicionamento preciso do goniômetro em geometrias complexas. A ponteira de foco automatizado fornece foco conveniente de grandes mapas de tensão residual. Está disponível uma ampla variedade de aberturas de feixe de raios X, incluindo opções redondas de 0,5, 1,0, 2,0, 3,0, 4,0 mm e opções retangulares de 0,5x3, 1x3, 0,5x5, 1x5 e 2x5 mm. Padrões de altas tensão, pós de tensão zero e padrões de austenita retida garantem resultados precisos do sistema. O resfriamento integrado contribui para instrumentos independentes.
CARACTERÍSTICAS AVANÇADAS
O mapeamento de tensão residual está disponível em todos os modelos LXRD, fornecendo uma imagem abrangente do estado de tensão residual de sua peça. Como criadores do mapeamento de tensão residual, a PROTO é líder no mercado. A Análise de austenita retida automatizada (conforme ASTM E915) permite a quantificação de valores a partir de 1%. A determinação da constante elástica por raios X (XEC) garante a calibração automatizada do material de medição de tensão residual, conforme ASTM E1426. Figuras de polo criadas usando os estágios rotativos LXRD podem ser usadas para análise de orientação preferencial, orientação de monocristal e medição de tensão de monocristais.
MODELOS
LXRD STANDARD
Nosso sistema de alta perfomace LXRD STANDARD, está projetado buscando ser compacto e podendo passar através de uma porta simples. Este sistema é perfeito para medir peças menores e amostras de até 30 cm. Este instrumento de última geração está disponível em uma configuração de gabinete simples e econômica ou pode ser configurado com várias opções, incluindo um estágio de posicionamento XY manual, estágio de rotação phi (medição triaxial automatizada), tensão residual XY de deslocamento de 300 x 200 mm totalmente automatizada estágio de mapeamento e com os recursos de medição de austenita retida. O gabinete à prova de radiação, o eixo z automatizado de 400 mm, o goniômetro MG2000 1200 W de alta potência, o chiller totalmente integrado e as coxins de nivelamento com rodas proporcionam desempenho e flexibilidade em um sistema compacto.
LXRD WIDEBODY
O LXRD Widebody possui todos os recursos do modelo LXRD standard, mas vem com uma capacidade de gabinete aumentada para medir peças de até 50 cm. Com um eixo z de 500 mm e um deslocamento aumentado de 300 mm para o estágio Y, o corpo largo fornece um dos maiores envelopes de medição de um sistema de gabinete independente.
MAPEAMENTO MODULAR LXRD
O sistema de mapeamento modular LXRD apresenta um mapeamento de tensão residual de alta potência para componentes grandes. Peças de grandes dimensões compostas por materiais difíceis de medir, como titânio, não são mais restritas a sistemas portáteis de baixa potência. Com mais de 2 metros de espaço de medição, estágios de mapeamento XY para serviços pesados e um estágio de mapeamento removível, ele tem a flexibilidade de atender a todas as suas complexas necessidades de medição.
LXRD GANTRY
O sistema LXRD Gantry é o maior sistema de compartimento da PROTO. Com um gabinete walk-in de 3,5 metros e movimentos em XYZ aéreos de longo curso, o LXRD Gantry simplifica a medição de componentes grandes e pesados, movendo o goniômetro em vez da amostra. Equipado com um goniômetro GR2000, este equipamento oferece a flexibilidade da rotação phi integrada para medições triaxiais.
LXRD MICROAREA
A LXRD Microarea é o equipamento de nível de pesquisa completo da PROTO para medição de tensão residual. Um estágio secundário de rotação do chi permite a medição em inclinação lateral verdadeira (além de ômega e inclinação lateral modificada). O estágio de mapeamento XY, o estágio de rotação phi, o microscópio de vídeo e os tamanhos de abertura de feixe de raios X (a partir de 30 mícrons) fornecem ferramentas avançadas para suas necessidades de medição de tensão residual em microáreas.
Whitepaper: X-ray Diffraction Residual Stress Measurement - An Introduction
Whitepaper: Retained Austenite
