Este sistema versátil e de alta potência permite que você troque facilmente a óptica, os estágios de amostra, as células de controles ambientais, os detectores de raios X e a óptica de raios X. À medida que seus requisitos de medição mudam, você pode transformar um difratômetro padrão em uma unidade totalmente personalizada, garantindo que seu sistema esteja sempre configurado de maneira ideal para suas necessidades.
Com uma precisão angular de <± 0,01 ° Δ2θ em toda a faixa angular, o AXRD LPD tem a capacidade de enfrentar desafios de difração altamente complexos. Este sistema é ideal para cristais únicos, filmes finos e amostras a granel e em pó. O AXRD LPD tem tudo o que você precisa para identificação de fases, análise quantitativa de fases, grau de cristalinidade, tamanho e deformação de cristalitos, refinamento de Rietveld, caracterização de filmes finos e revestimentos, análise de estrutura e difração no plano. Com vários estágios de amostra, software poderoso e opções abrangentes de banco de dados, o AXRD LPD é tão versátil quanto suas necessidades de difração.
SOFTWARESO XRDWIN PD é o nosso software de coleta de dados, otimizado para versatilidade de coleta. O XRDWIN PD facilita a configuração de parâmetros de digitalização personalizados para digitalizações XRD individuais e a análise de dados em tempo real durante a aquisição. Ele pode ser personalizado para executar coleções de varreduras múltiplas que variam em temperatura, pressão, condições de medição ou geometrias. Os comandos internos otimizam o alinhamento e a calibração, tornando o processo acessível até mesmo para um usuário iniciante.
O PDAnalysis permite que os usuários analisem dados de pó adquiridos com o XRDWIN PD.
O PDAnalysis possui um número ilimitado de licenças, permitindo que os usuários analisem dados dentro ou fora do local, sem nenhum custo adicional. Os recursos avançados do nosso software permitem que os usuários realizem várias análises qualitativas e quantitativas:
- Identificação de fases
- Pesquisa / correspondência em bancos de dados COD ou ICDD
- Análises de fases quantitativas
- Ajuste de padrão inteiro (Refinamento de Rietveld)
- Grau de cristalinidade
- Tamanho e tensão do cristalito
- Refinamento e indexação de parâmetros de rede
- Austenita retida, tensão residual, figuras de polo e textura
- Análise XRF para dados coletados com o detector SPD
- Análise de alta resolução: curvas de refletividade de raios X (XRR), rocking curves e mapas de espaço recíproco.
