Difratômetro de Raios X de Alta Resolução para Filmes Finos e Monocristais AXRD LPD-HR
SKU: AXRD LPD-HR
SKU: AXRD LPD-HR
O AXRD LPD-HR é um difratômetro de raios X de alta resolução desenvolvido para laboratórios que necessitam realizar caracterizações avançadas de filmes finos, estruturas multicamadas, materiais epitaxiais e monocristais.
Baseado na consagrada plataforma AXRD LPD e equipado com óptica avançada de alta resolução, o sistema oferece a máxima precisão angular para aplicações de pesquisa, desenvolvimento de materiais e controle de qualidade de alta exigência.
Projetado para atender desde laboratórios acadêmicos até centros de pesquisa e ambientes de produção de alta tecnologia, o AXRD LPD-HR combina um goniômetro de última geração com os mais recentes avanços em motores de precisão e encoders digitais, proporcionando excelente estabilidade mecânica, repetibilidade e qualidade de dados para análises estruturais complexas.
O sistema é ideal para a caracterização detalhada de filmes finos, revestimentos multicamadas, semicondutores, materiais epitaxiais, dispositivos eletrônicos avançados e monocristais, permitindo análises quantitativas e qualitativas com elevado nível de confiabilidade.
Caracterização Avançada para Filmes Finos e Materiais Monocristalinos
O AXRD HR foi desenvolvido especificamente para aplicações que exigem medições de altíssima resolução, oferecendo recursos avançados para investigação estrutural e microestrutural de materiais.
Entre as principais aplicações estão:
Reflectometria de Raios X (XRR)
A técnica de Reflectometria de Raios X (XRR) permite caracterizar as propriedades físicas da superfície e das interfaces de filmes finos e revestimentos multicamadas com elevada precisão.
O AXRD LPD-HR possibilita determinar:
O sistema pode analisar materiais:
Essas informações são fundamentais para o desenvolvimento e controle de processos em semicondutores, revestimentos funcionais e materiais nanoestruturados.
Rocking Curves de Alta Resolução
As Rocking Curves (curvas de oscilação) são utilizadas para avaliar a qualidade cristalina de camadas epitaxiais e monocristais.
Com o AXRD LPD-HR é possível determinar:
Essas análises são essenciais para aplicações em semicondutores, eletrônica avançada e crescimento epitaxial de materiais.
Mapeamento de Espaço Recíproco (RSM)
O Mapeamento de Espaço Recíproco (RSM) é uma das técnicas mais completas para caracterização de filmes finos e materiais epitaxiais.
Com esta técnica é possível:
O RSM fornece informações estruturais extremamente detalhadas, sendo indispensável para análise de filmes tensionados e heteroestruturas avançadas.
Recursos e Diferenciais
O AXRD HR aproveita toda a robustez da plataforma AXRD LPD, agregando componentes ópticos especializados para medições de alta resolução.
Principais benefícios:
Aplicações Principais
Diferenciais da Tennessine
A Tennessine Instrumentação Analítica é representante autorizada da PROTO no Brasil, oferecendo suporte especializado para seleção, instalação e operação de sistemas avançados de difração de raios X.
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